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先进的原位纳米粒度分析仪

先进的原位纳米粒度分析仪

 

实时相关和时间分辨 纳米粒度测量

“用途广泛、灵活小巧的设备,可快速准确地进行纳米粒度测量、动力学和过程监控

适用于

☑实时监控纳米颗粒合成工艺、提高悬浮稳定性等

☑原位测量(在反应器、高压灭菌器、密封小瓶等装置内部进行测量)

☑将粒度测量与其他光谱法(X 射线小角散射、小角中子散射、拉曼光谱法、紫外-可见光谱法等) 相结合

 

兼具紧凑性和耐用性    

内置尖端技术                             

 高可靠性稳频固体激光器                     

 新一代高灵敏度光子计数器(APD)     

 更高的灵敏度                                            

 极低浓度和/或亚纳米级样品               

 • 快速采集计数器和时间分辨相关        

 • 连续信号记录;高分辨率和实时相关  

紧凑的人体工程学设计

 重量轻(<6kg),占用空间小

-节省实验室空间,便携

 光学单元可与控制单元分离

-OEM 集成,方便搬运和安装

-远程探头可根据应用更换

 无需预热 ->可以立即使用

 无活动件 ->可靠,无需维护

独特的原位非接触式远程探头

VASCO Kin 远程探头

用于非接触式原位纳米粒度监测

 原位非接触式测量:无需分批处理,无污染风险

 占用空间小:易于集成到空间受限的环境中

 无源光机械组件:可在恶劣环境(ATEX、手套式操作箱)中工作

 单模光纤电缆:远程距离为2m至25 m

 

广泛的高级应用

 双夹套玻璃反应器中的原位监测                                       

 与自动进样机器人连用后的自动高通量测量

 密封小瓶(例如注射器)中的非接触式测量                      

 用户自定义实验装置中的动力学测量

 

配备 NanoKin 软件

 方便使用的图形用户界面(GUI)                                         

 独特的数据分析功能                                                             

 用户自定义的动力学分析/时间分辨分析                       

 杂散强度事件滤波                                                                 

 时间切片和动力学分析                                                        

 在一个屏幕上轻松访问所有测量数据(强度、相关图、

拟合/残差、粒度分布、累积粒度等)。

 可定制的报告                                                                           

 一键导出数据和图表                                                              

 软件远程控制操作:由外部 TTL信号触发自                     

    动设置和用户自定义设置(SOP)     

 独特的二维图表示法

 用于快照分析的抓取功能

 详尽的溶剂数据库

(超过 250 种溶剂+用户自定义的溶剂)

 嵌入式测量模拟器和回放模式

 

用于纳米粒度分析的高级算法!

粒度分布(强度)/Cordouan仪器对比仪器 1  

仪器 1

-通用算法和 Contin 算法自动模式

粒度分布(强度)/Cordouan仪器对比仪器 2

 

仪器 2

-通用算法、多模态算法和Contin 算法

-自动模式

对复杂样品进行高分辨率粒度测量时高效算法具有明显的差异

 

专用测量头选项,满足各种应用需求

'原位”测量头

适用于:

 原位测量

 可在高压和/或高温等恶劣环境中工作

 工业过程控制

 

主要优势:

 非侵入式测量

 监测/研究纳米颗粒的动态或生长情况占用空间小,易于校准

双厚度控制器(DTC)测量头

适用于:

 高浓度样品

 有限空间环境中的测量

 

主要优势:

 占用空间小,即插即用

 无伪影

 浓度范围更宽

 无需耗材

温控比色皿测量池

适用于:

 使用调温池进行分批测量

 有限空间环境中的测量

 

主要优势:

 无交叉污染风险

 与有机溶剂兼容

 占用空间小,即插即用

定制测量头

适用于:

 在用户自定义的条件

(有限空间、波长、纳米粒度分散、长距离遥感)下进行测量

 与用户的装置结合

 

主要优势

 完全适应客户的需求

 可重新配置

 

先进的原位纳米粒度分析仪

光学头技术参数

测量原理

光纤动态光散射(DLS)

最小上样量(μL

<50μL(因样品池而异)

样品池

原位测量非接触式远程探头

溶剂相容性

水溶剂和有机溶剂(因样品池而异)

散射角

170°

粒度范围(°)

0.5nm-10um(因样品而异)

样品浓度范围

10-4%5~10%(体积百分比)(因样品而异)

尺寸/重量

50mmx25mmx120mm(xx)/<0.5kg

硬件技术参数中央处理单元

激光光源

635nm-50mW 高稳定性激光二极管;(可选蓝色和绿色)

探测器

无伪影的雪崩光电二极管(APD)

计算

嵌入式专用 PC

数据处理

相关处理和分析软件:NanoKin®软件

测量时间(典型值)

200ms及以上,因样品和测量设置而异

操作条件/储存条件

15°C40°C/-10°C50°℃ 相对湿度<70%,无冷凝

尺寸/重量

220mmx220mmx64mm(上部)/2.5kg

220mmx220mmx48mm(下部)/2.8kg

系统合规性

CE认证

CE认证产品--3b 类激光产品,EN 60825-1:2001CDRH

标准化

符合 IS0 13321(1996)IS0 22412(2008)标准

以及《美国联邦法典》第 21 卷第11部分(可选)

系统合规性

 

1年保修、现场安装和培训、在线支持

 

NanoKin®软件(已安装)和说明书

 

PelicaseTM运输箱(可选)

 

NIST认证的乳胶悬浮液套件(可选)

 

监控显示器、键盘、鼠标