XRD原位冷热台
XRD原位冷热台（LN600-XRD）
XRD原位冷热台是一款用于X-射线衍射实验的装置，可在-190~600℃的温度范围内进行控温，实现样品在气密/真空环境下的原位变温测试，研究样品在不同条件下的晶体结构、热稳定性和相变温度等性质。帮助科研人员更好地了解材料的特性，为材料的设计和应用提供更多的信息。
产品特点
○ 控温范围：-190~600℃
○ 支持反射/透射模式
○ 气密腔室，可通入保护气体
○ 温度稳定性：±0.1℃
○ 上位机软件控制
○ 可按需定制
产品参数
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产品型号 |
LN600-XRD |
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控温参数 |
控温原理 |
液氮冷却、电加热 |
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控温范围 |
-190～600℃ |
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温度稳定性 |
±0.1℃ |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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最大升降温速率 |
50℃/min |
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控温方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100 |
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光学参数 |
光路 |
反射（可按需升级透射） |
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视窗材质 |
Kapton薄膜 |
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结构参数 |
腔室 |
气密腔室，可通入保护气体（可按需升级真空腔室） |
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样品台尺寸 |
25x25mm |
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样品台材质 |
银 |
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外壳尺寸 |
130x110x85mm |
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安装方式 |
水平安装 |
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配置清单 |
XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、液氮控制器x1、气泵x1、mini循环泵x1、2L液氮罐x1、QTC_V1.0x1 |
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应用案例
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根据用户需求，定制XRD原位冷热台，适配布鲁克D8 ADVANCE X-射线衍射仪，实现-190~600℃的XRD原位变温测试
应用方向
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研究方向 |
研究内容 |
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相变研究 |
材料在不同温度下呈现不同的晶体结构相，记录相变发生和相变温度 |
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热稳定性分析 |
评估材料在加热或冷却过程中的稳定性，防止化学变化 |
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功能材料的特性研究 |
分析不同温度下的结构变化对性能的影响 |
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应力和热膨胀研究 |
测量晶格应力和应力释放情况 |
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工艺模拟 |
模拟生产过程中的温度变化，预测材料表现 |
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化学反应研究 |
观察反应产物结晶过程和反应物结构变化 |
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制药工程 |
研究药物分子晶体形态和稳定性 |
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新材料的开发与测试 |
研究温度梯度下的形成和稳定性，开发新材料 |
