霍尔效应01
霍尔效应

MMR变温霍尔效应测量系统

 MMR变温霍尔效应测量系统
美国MMR公司,成立于1980年,与斯坦福大学合作开发了致冷器,其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.05K),并将其应用在以下测量系统,提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计,客户可根据实际要求配置系统,也方便日后升级。其主要客户有Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD,中科院等。
变温霍尔效应测量系统---桌面紧凑型

霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。

主要参数

样品固定方式

弹簧探针或引线治具

电阻率

10-6~1013 Ohm*cm

温度

70~730K;80~580K;70~580K;80~730K;室温~730K(可选)

载流子迁移率

10-2~109 cm2/volt*sec

磁场

5000Gauss永磁铁,5000Gauss电磁场, 1.4T电磁场(可选)

载流子浓度

102~1022cm-3

温度稳定度

<=0.05K

电流范围

0.1 pA~10mA

温度响应

1K/sec

电压范围

+/-2.5V,最小可测到6X10-6 V

致冷片

10X14 mm

电阻范围

10 m Ohms~ 10G Ohms