基线漂移（Baseline Drift）

光谱仪的基线漂移是因为温度改变导致的平均基线回归的整体偏差。随着温度的增加，暗噪声的影响将会增大。然而，取决于（不同）检测器，电子补偿可能会随着温度升高而增加，也可能会随着温度增加而减小。索尼ILX511B检测器就是一个很典型的基线随着温度增加而降低的实例，因为负电子补偿的影响掩盖了因暗噪声导致的基线小幅增加。理论上，温度的变化可能会在检测器上产生相同和相反的效果，因此不会产生基线漂移。